【英文标准名称】:Measuringofminority-carrierlifetimeinsiliconsinglecrystalbyphotoconductivedecaymethod
【原文标准名称】:用光电导衰减法测量硅单晶中少数载流子的寿命
【标准号】:JISH0604-1995
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:1995-07-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonElectronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:晶体结构;半导体器件;测量;光电导性;光电现象;生命科学;时间测量;硅;准金属
【英文主题词】:timemeasurement;measurement;lifesciences;;;photoconductivity;photoelectricity;crystalstructure;semiconductordevices
【摘要】:この規格は,シリコン単結晶中の少数キャリアのパルク再粘合ライフタイム(以下,パルクライフタイム又はτBという。)を直流回路を用いた光導電減衰法によって測定する方法について規定する。なお,測定する単結晶は均一な組成をもち,抵抗率がlΩ·cm以上のものとする。
【中国标准分类号】:H81
【国际标准分类号】:29_045;77_120_99
【页数】:7P;A4
【正文语种】:日语

标准名称：	称重传感器检定规程
英文名称：	Load Cell
中标分类：	综合 >> 计量 >> 力学计量
替代情况：	JJG 669-1990
发布部门：	中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布日期：	2003-05-12
实施日期：	2003-11-12
首发日期：
作废日期：
归口单位：	全国力值硬度计量技术委员会
起草单位：	航空工业总公司第304研究所、中国计量科学研究院
起草人：	焦献瑞、李庆忠
出版社：	中国计量出版社
出版日期：	2004-04-19
页数：	81页
书号：	155026-1722

本规程适用于称重传感器的定型鉴定、样机试验、首次检定、后续检定。

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