GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
作者:标准资料网
时间:2024-04-27 18:03:10
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基本信息
标准名称: | 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 |
英文名称: | General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits |
中标分类: | 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 微电路综合 |
ICS分类: | 电子学 >> 集成电路、微电子学 |
发布部门: | 国家技术监督局 |
发布日期: | 1992-01-02 |
实施日期: | 1993-08-01 |
首发日期: | 1992-12-17 |
作废日期: | 1900-01-01 |
主管部门: | 信息产业部(电子) |
归口单位: | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
起草单位: | 上海件五厂 |
出版社: | 中国标准出版社 |
出版日期: | 2004-08-13 |
页数: | 平装16开, 页数:19, 字数:34千字 |
书号: | 155066.1-9730 |
适用范围
本标准规定了MOS和结型场效应半导体集成电路模拟开关电参数测试的基本原理。模拟开关与CMOS电路相同的静态参数和动态参数测试可参照GB3834《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类: 电子元器件与信息技术 微电路 微电路综合 电子学 集成电路 微电子学
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